納米粒度和Zeta電位分析儀現(xiàn)場快速檢測金屬材料成分及牌號篩選，是針對在野外現(xiàn)場X熒光分析的應(yīng)用而設(shè)計，具有體積小、重量輕、測試時間快、無損、可定性定量等特點，用于質(zhì)量控制、材料分類、合金鑒別、安全防范、事故調(diào)查等現(xiàn)場應(yīng)用情景中。在鋼鐵冶煉、有色金屬、航空航天、武器制造、潛艇船舶等重點工程行業(yè)的生產(chǎn)過程中對金屬材料進行識別。在石化精煉、精細化工、制藥、電力電站、航空航天等工程安裝施工過程中對金屬材料進行識別從而確保設(shè)備驗收、材料驗收，達到工程要求。是廢舊金屬回收再利用行業(yè)中進行金屬識別的有力工具。
 

　　納米粒度和Zeta電位分析儀的應(yīng)用
 

　　1.半導(dǎo)體
 

　　研究半導(dǎo)體晶體表面殘留雜質(zhì)與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機制。
 

　　2.醫(yī)藥和食品行業(yè)
 

　　乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究(如食品、香水、藥品和化妝品)，蛋白質(zhì)功能研究，核糖體分散和凝聚控制研究，表面活性劑功能研究(微囊)。
 

　　3.陶瓷和顏料工業(yè)
 

　　表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷(矽土、氧化鋁、二氧化鈦等)和無機溶膠的研究，顏料的分散和凝聚的控制研究，浮礦收集器的吸附研究。
 

　　4.聚合物和化工領(lǐng)域
 

　　乳劑(涂料和粘合劑)的分散和凝聚控制研究，乳膠表面重整控制(藥品和工業(yè)用途)。電解聚合物(聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等)功能研究，控制造紙和生產(chǎn)紙漿過程研究，紙漿添加劑研究。
 

　　納米粒度和Zeta電位分析儀的使用注意事項
 

　　1、若要進行酸堿滴定測等電點或測PH值，則每次實驗前須校正PH探針;若要測試溶液電導(dǎo)率，則須校正電導(dǎo)率。主探頭可每周校正一次;
 

　　2、每次更換樣品均需清洗主探頭、PH探針以及容器，擦干，以免前面殘留粉末影響實驗結(jié)果;3、實驗結(jié)束后要清洗主探頭、PH探針和容器，并將PH探針放回酸性緩沖液中;
 

　　4、若進行酸堿滴定則每次關(guān)機前需將酸堿滴定管清洗3~5次。